Dokunmatik Akım ve Koruyucu İletken Akımının Ölçüm Laboratuvarı Test Makineleri

Ürün Açıklaması

Dokunma akımı ve koruyucu iletken akımının ölçümü

G.1 Armatür, 25 ° C ± 5 ° C'lik bir ortam sıcaklığında ve Şekil G.1'de gösterilen test devresindeki nominal besleme voltajı ve frekansında test edilir.
G.2 Armatür, amaçlanan tipte lamba (lar) ile çalıştırılır, öyle ki, nominal voltajda stabilize edildiğinde, lamba voltajı ve floresan ve diğer deşarj lambaları voltajı, nominal değerin ±% 5'i dahilindedir. değerler.
G.3 Koruyucu iletken akımı, 12.4.1'de açıklandığı gibi bağlanan armatür ile ölçülür. Ek olarak, Şekil G.4'teki ölçüm ağı, Şekil G.1'de bağlanan A ve B ile armatürün PE iletkeni ve topraklama bağlantısı arasında kullanılır. Dokunma akımı için ölçüm ağı bağlantısı kesildi.
Test dizisi, Madde G.5'de açıklandığı gibi olacaktır, ancak “e” daima açıktır ve sınıf II armatürler üzerinde hiçbir ölçüm yapılmayacaktır.
Yüksek dirençli bir voltmetre (elektronik veya bir osiloskop) ile ölçülen U4 gerilimi, R direnci ile bölünür ve akım değeri rms olarak verilir.
G.4 Dokunma akımının ölçümleri için, Şekil G.1, G.2 ve G.3'te belirtilen devre kullanılır.
Test dizisi, Madde G.5'te açıklandığı gibi olacaktır. IEC 60529'a uygun standart test parmağı, test probu olarak kullanılır ve erişilebilir metal parçalara veya armatür gövdesinin 10 cm x 20 cm boyutunda folyoya sarılı erişilebilir yalıtım parçalarına uygulanır.
Burada açıklanan ölçüm yöntemi, armatürün bir yıldız TN veya TT sisteminde kullanıldığı, yani armatürün hat (L) ve nötr (N) arasında bağlı olduğu varsayımına dayanmaktadır. Diğer sistemler için IEC 60990'ın ilgili bölümlerine bakınız.
Çok fazlı bağlantılarda, aynı prosedür gerçekleşir, ancak ölçümler o sırada bir fazda yapılır. Her aşama için aynı sınırlar geçerlidir.
Şekil G.3'ün ölçüm ağı, taşınabilir sınıf I armatürler için kullanılırken, Şekil G.2'nin ölçüm ağı, koruyucu iletken akımının istendiği durumlar dışında tüm diğer durumlarda kullanılır.
Şekil G.2 ve G.3'ün ölçüm ağlarındaki U2 ve U3 voltajı tepe voltajlarıdır.
30 kHz üzerindeki frekanslar söz konusu ise, temas akımının ölçülmesi, Şekil G.2'nin ölçülmesine ek olarak elektrik yanma etkileri ile ilgili ölçümleri içermelidir. Yanma etkileri için, temas akımının ağırlıksız rms değeri uygundur. Ağırlıksız temas akımı, Şekil G.2'deki 500 Ω direnç üzerinden ölçülen rms voltajı Uı'den hesaplanır.

Her bir erişilebilir kısma terminal A terminali (standart test parmağı) sırayla uygulanacaktır.
Terminal A elektrodunun her bir uygulaması için, B terminali elektrotu toprağa uygulanacak, ardından diğer erişilebilir bölümlerin her birine sırasıyla uygulanacaktır.
Sınıf II armatürlerde ölçüm yapmak için koruyucu iletken göz ardı edilir.
Şekil G.1'in test devresi, bir izolasyon transformatörü kullanacaktır.
NOT Sınıf III armatürler, parçalar ve kablo sistemleri için gereklilikler göz önünde bulundurulmaktadır.
G.5 Test dizisi
Dokunma akımı aşağıdaki gibi ölçülür:

Şekil G.1 - Test konfigürasyonu: yıldız TN veya TT sisteminde tek fazlı ekipman

Şekil G.2 - Ölçme ağı, algı veya reaksiyon için temas ağırlıklı akım (tüm sınıf II ve sabit sınıf I armatürler için)

Şekil G.3 - Ölçme ağı, devam etmek için akım ağırlıklı temas
(taşınabilir sınıf I armatürler için)

Şekil G.4 - Yüksek frekanslı koruyucu iletken akımları için ağırlıklı ölçüm ağı